Pressemitteilung von Ulrike Peter

PAT/PAA mit iTAC.MES.Suite: Fehlerquellen erkennen, bevor sie sich auswirken

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Dernbach, 10. Mai 2011 - Die zunehmende Komplexität und Teilevielfalt von Endprodukten fordert Hersteller und Zulieferer gleichermaßen. Der kleinste Fehler an einem Bauteil kann fatale Auswirkungen haben und die Gewährleistungskosten in die Höhe treiben. Damit Produzenten von komplexen elektronischen, mechatronischen und mechanischen Komponenten dem Ziel der Null-Fehler-Produktion näherkommen, bietet die iTAC Software AG (www.itacsoftware.de) die Part Average Test- und Part Average Analyse-Methode als Bestandteil ihres Manufacturing Execution Systems an.

Gerade in den ersten Stunden, in denen z.B. ein Neuwagen beim Endkunden in Betrieb ist, können Ausfälle auf Grund technischer Fehlfunktionen von Bauteilen bzw. Komponenten auftreten. Genau diese soll der Part Average Test (PAT) bzw. die Part Average Analyse (PAA) verhindern. Dieter Meuser, Technologievorstand bei iTAC, erklärt: "Seit dem Jahr 2006 unterstützen wir mit unserer iTAC.MES.Suite diese beiden Analysemethoden. Das Alleinstellungsmerkmal unserer PAT-/PAA-Funktion im Traceability-Service (TR) ist, dass die Analysemethoden in den laufenden Produktionsprozess integriert werden können, ohne die Taktzeit der Fertigungsanlagen negativ zu beeinflussen."

Vorsorge ist besser als Nachsorge
In der Automobilindustrie wurden die Methoden PAT und PAA, die sich bereits jahrelang in der Halbleiterindustrie bewährt hatten, von der Daimler AG im Jahr 2005 und anschließend von der BMW-Motorenentwicklung 2008 zur Erkennung systematischer und stochastischer Fehler während des Herstellungsprozesses aufgegriffen. Über das Analyseverfahren werden Auffälligkeiten in Merkmalswerten festgestellt. Bauteile mit einem hohen Ausfallrisiko werden während der Produktion selektiert und aussortiert, um nicht in das Endprodukt einzufließen zu können. Somit wird das Risiko von Feldausfällen der Produkte erheblich minimiert.

Die iTAC.MES.Suite mit ihrer integrierten PAT-/PAA-Funktion kann zur Minimierung der Gewährleistungskosten beitragen. Die Verbuchung der Messdaten erfolgt über die bereits mit der MES-Lösung in Echtzeit kommunizierenden Testsysteme. Die zusätzlichen PAT-/PAA-Methoden werden den Testsystemen über die API-Bibliotheken der iTAC.MES.Suite zur Verfügung gestellt und analysieren die transferierten Messdaten mit den jeweiligen Vergleichsdaten. Erkennt das System eine Anomalie bzw. Ausreißer, wird das Bauteil entsprechend gekennzeichnet. Von zentraler Bedeutung ist dabei die Online-Erkennung von anomalen Bauteilen, die über die bidirektionale Kopplung der Testsysteme gewährleistet wird. Die auffälligen Teile können so "direkt" für die weitere Verarbeitung gesperrt werden.

Dieter Meuser erklärt: "Die PAT-/PAA-Methode wurde in den vergangenen Jahren kontinuierlich weiterentwickelt, so dass sie heute nebst der Halbleiterindustrie auch in den Produktionsstätten für hochkomplexe elektronische, mechatronische und mechanische Komponenten eingesetzt wird. Allerdings ist sie noch nicht als Standardverfahren außerhalb der Halbleiterindustrie etabliert."

Im MES von iTAC sind die PAT-/PAA-Analysemethoden standardisiert implementiert. So können grundsätzlich alle Messdaten, die fertigungsbegleitend aufgezeichnet werden, einer entsprechenden Analyse unterzogen werden. "Dies ermöglicht es, sofort präventiv in den Fertigungsprozess einzugreifen, um Fehler oder ganze Fehlerserien auszuschließen", resümiert Dieter Meuser.

Weitere Informationen unter:
http://www.itac.de/pages/solutions/paa/index.html

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