Pressemitteilung von Oliver Schillings

Oberflächenanalytik auf Hannover Messe live erleben

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Einen ganz genauen Blick auf die Oberflächenstruktur ermöglicht Fries Research & Technology (FRT), Spezialist für hochauflösende und zerstörungsfreie Oberflächenmessungen, den Messebesuchern in Hannover. Auf der weltweit größten Industriemesse können Interessenten sich von FRT zeigen lassen, wie die 3D-Topographie oder 2D-Kontur ihrer Produkte im Mikro- und Nanometerbereich beschaffen ist. FRT ist am IVAM Gemeinschaftsstand "Mikro, Nano, Materialien" in Halle 17, Stand C48 zu finden.

Verschiedene Messaufgaben mit einem System durchführen
Die Messungen vor Ort werden mit einem MicroProf 100 durchgeführt. Die MicroProf-Serie ist ein Alleskönner. Sie verfügt über die FRT Multisensor-Technologie, mit der verschiedene Messverfahren wie z.B. 3D Topographie, Profil- und Schichtdickenmessungen in einem universellen Messgerät kombiniert werden. FRT hat auf Basis der MicroProf Technik für viele Branchen bereits fertige Lösungen entwickelt, wie zum Beispiel ein vollautomatisches Messsystem für die Mikrosystemtechnik, bei dem die Überwachung der Oberflächenparameter von MEMS-Wafern mittels eines Handling-Roboters vollautomatisch durchgeführt wird.

FRT ist ebenfalls in Halle 2, Stand D50 zu finden. Dort präsentiert die Initiative "Nano in Germany" eine Sonderschau mit Posterfläche.
Die Hannover Messe findet vom 23. bis 27. April statt.

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